이틀 동안 하는건데 아쉽게도 개인사정으로 첫날은 참가 못하고 둘째날에 참가했음.

XPS와 AFM에 대한 내용인데

XPS는 아주 세기가 약한 x선을 시료에 조사해 외부광전효과를 일으켜 광전자 탈출을 일으켜서 그 전자들의 운동량을 통해 시료에 대한 정보를 뽑아내는 장비임.

AFM은 고등학교 때 배운 원자간 인력 척력(반데르발스 힘)을 이용해 시료 표면을 연구할 수 있게 도와주는 첨단 기기임.

둘다 기본모드일 때를 기준으로 이야기한 것이고,

어떻게 이용하느냐에 따라 다양한 연구가 가능함.

추신

AFM의 경우, 푸리에 변환을 이용해 공명 진동수를 찾아 이를 이용해 다양한 연구를 하기도 한다고함.

어디까지나 본인 개인 탐구심을 채우기 위해 본 내용들이라, 굉장히 겉핥기 식으로 글을 썻다는 점은 참고해주길 바람.